Съдържание
7 отношения: Nm, Атомно-силов микроскоп, Сканиращ тунелен микроскоп, Сканиращ електронен микроскоп, Ернст Руска, Луи дьо Бройл, Леща (оптика).
- Анатомична патология
- Микроскопи
- Патология
Nm
#виж нанометър.
Атомно-силов микроскоп
Схема Атомно-силов микроскоп (АСМ, AFM – atomic-force microscope) е микроскоп с висока разделителна способност, основан на взаимодействието на сонда (тънко острие) с повърхността на изследвания образец.
Виж Електронен микроскоп и Атомно-силов микроскоп
Сканиращ тунелен микроскоп
Изображение на златна повърхност, получено в сканиращ тунелен микроскоп. Атомите на златото са подредени в кристална решетка Обща схема на СТМ Сканиращият тунелен микроскоп (СТМ) е вид микроскоп, позволяващ да се изучават повърхности на атомно ниво.
Виж Електронен микроскоп и Сканиращ тунелен микроскоп
Сканиращ електронен микроскоп
Полени снимани със СЕМ. СЕМ с отворена вакуумна камера Сканиращият електронен микроскоп (СЕМ) е вид електронен микроскоп, който се използва за изучаване на повърхности: Обектът се сканира (обхожда се точка по точка) от електронен сноп.
Виж Електронен микроскоп и Сканиращ електронен микроскоп
Ернст Руска
Микроскопът на Ернст Руска от музея в Мюнхен Ернст Руска е германски физик, носител на Нобелова награда за физика за 1986 г.
Виж Електронен микроскоп и Ернст Руска
Луи дьо Бройл
Луи дьо Бройл (Louis-Victor-Pierre-Raymond, 7th duc de Broglie познат като Louis de Broglie) е френски физик, носител на Нобелова награда за физика за 1929 година.
Виж Електронен микроскоп и Луи дьо Бройл
Леща (оптика)
Двойноизпъкнала леща Лещата е оптичен елемент, който пропуска и пречупва светлината според законите на оптиката.
Виж Електронен микроскоп и Леща (оптика)
Вижте също
Анатомична патология
Микроскопи
- Електронен микроскоп
- Микроскоп
- Сканиращ тунелен микроскоп
Патология
- Електронен микроскоп
- Медицински тест
- Паразитология
- Патогенеза
- Патология
- Психопатология